电子产品都离不开电源，而电源部件也是大多数电子产品故障的最主要原因。高速数字电路电源完整性精确测量一直是个难题，以前大部分研发单位和公司并不进行这些电源完整性参数的测量。但是，随着数字信号速率的不断提升，特别是提升到 Gbps 以上数量级后，电源完整性的测量成为关键测试项目之一，另外芯片和 CPU 的供电电平也越来越低，使得它对电平的变化更加敏感。本议题将介绍电源完整性的概念，测试方法和测量技巧。还会介绍信号完整性的基本概念，设计思路和流程，以及测试技巧。

芯片和医疗电子等行业需要使用低压差线性稳压器（LDO）衰减开关电源产生的电压纹波80dB甚至更多，这种极低纹波要求对锁相环（PLL）和时钟等信号调节器件在内的数据转换器尤为重要，因为噪声电源电压会影响整体性能。如此高动态纹波抑制PSRR测试是一个挑战，具有5Hz扫频起步的E5061B网络分析仪是目前业界公认的LDO/PSRR测试完美解决方案。

不同产品的工作电流，有很大的差距。从飞安级到数千安培级、从静态直流，到交流、再到脉冲；从单通道到多通道等到。这给精确的测量工作带来的巨大的挑战。不同于电压的直接测量，电流更多是间接测量。因此，测量的方法众多。但不同的方法的优劣是什么，究竟哪一种方法更适合与当前的工作场景，这是必须考虑到的。 这个专题中， 我们先从基础开始，概述电流测量的不同技术路径，再给大家展示单路和多路的静态和动态电流测量。还将关注在宽禁带器件电路测试的一个核心难题， 就是高动态、高带宽的电流测量。

在半导体、材料、极值电阻、MEM是等精确测试中，精确的低电压、小电流等微弱静态和动态电信号的测试是工程师面临的挑战！本专题从精密I/V测量的SMU源表开始，介绍源表的工作原理，以及在不同的应用场景中，如何选择合适的治具，达到最佳的测试结果。