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电子设计和测试技术大会(简称EDTEST),是由EDTEST技客联盟主办的技术交流盛会。为期两天。自2016以来,已在全国10多个城市开展分会场技术研讨。累计参与人次达到15000+,每年邀请国内外行业原生技术发明人20多位,知名厂商技术大咖50多位。就热点技术专题进行分享,为汽车电子、医疗电子、航天航空等10多个电子应用行业相关人士提供前沿技术及实践经验,打造技术人员的学习和交流平台。 2020年12月12-13日,电子设计和测试技大会-上海峰会(EDTEST2020)将如约而至。大会以“技术赋能 智创未来”为主题,设定1个大主会场,分论坛以”同步前沿技术,共享实战经验“开设24个技术专场。邀请来自国内外行业百余位技术专家,共同探讨电磁兼容、电路保护、高速电路与信号完整性、电源设计、硬件电路设计与测试等领域的前瞻性热点话题与技术案例分享。
范峻 美国密苏里科技大学电磁兼容(EMC)实验室主任
王硕 美国佛罗里达大学电力电子与电能研究室主任
高先科 新加坡高性能计算研究院高级科学家 (教授级)
Desmond Tan ANSYS亚太区5G行业总监
李玉山 西安电子科技大学博士生导师
邱扬 陕西省电磁兼容专业委员会副主任委员
朱玉玉 博士副教授
全宇辰 中国科学院教授级高工
孔今 高级EMC工程师
刘崇俊 博士
潘其良 捷普科技(上海)有限公司EMC专家
张雷 南京中新赛克科技有限公司硬件部科长/硬件开发经理
叶恩齐 PCB设计设计专家
于峥 北京中鼎畅讯科技有限公司总经理
林超文 EDA设计智汇馆首席讲师